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德國ElektroPhysik QuintSonic T分層膜厚儀是一種高精度的無損檢測儀器，以下是其技術原理與測量精度的具體介紹：

技術原理

• 超聲波反射原理：QuintSonic T的智能探頭會發出超聲波脈衝，這些脈衝進入覆層後，在覆層各層的結合麵或與底材的臨界麵處，會有一部分脈衝被反射回來。傳感器接收到這些反射的超聲波脈衝後，通過測量脈衝在覆層中傳播的時間以及已知的聲波在介質中的速度，計算出覆層的厚度。

• A型掃描圖像輔助：其QSoft軟件可以顯示測量時的A型掃描圖像，即超聲波脈衝在塗層中的傳播情況。通過A型掃描圖像，用戶可以更直觀地觀察到超聲波脈衝在塗層各層中的反射情況，從而更準確地確定塗層的厚度。同時，還可以通過參數設置來定義測量範圍、抗幹擾、回波診斷和預估截止帶範圍，以排除雜波的幹擾，進一步提高測量的準確性。

• 多層測量技術：該儀器能夠測量多達8層的塗層厚度，這得益於其先進的傳感技術和軟件算法，能夠準確區分和識別不同塗層之間的反射信號，從而實現對多層塗層的精確測量。

測量精度

• 高分辨率：QuintSonic T的分辨率為0.1微米，這意味著它可以檢測到非常微小的塗層厚度變化，為精確測量提供了基礎。

• 高精度測量：其測量精度為±（1微米+1%讀數），在使用橫切標準板進行標定校準的前提下，能夠保證測量結果的高精度和可靠性。例如，當測量厚度為100微米的塗層時，其測量誤差範圍僅為±1.1微米，這對於許多工業應用來說是非常精確的。

• 重複性和再現性：儀器的重複性和再現性好，即在相同條件下多次測量同一塗層厚度時，測量結果具有高度的一致性。這使得QuintSonic T分層膜厚儀在質量控製和生產過程中能夠提供可靠的測量數據，有助於確保產品質量的穩定性和一致性。